绝缘栅双极型晶体管加速寿命试验

IGBT加速老化数据 数据集包括热超应力老化实验的三组数据。本实验将封装温度控制在器件额定温度之外的一个范围内，目的是加速器件的老化。监测了集电极电流、集电极电压、栅极电压和封装温度等参数。

初步数据来自热超应力加速老化使用老化和表征系统。该数据集包含来自6个器件的老化数据，其中一个器件使用直流栅极偏置老化，其余器件使用平方信号栅极偏置老化。记录了几个变量，在某些情况下，可以高速测量栅极电压，集电极-发射极电压和集电极电流。

该装置的结构包括将发射极连接到电源的地，并将集电极与电阻串联到电源的正引线上。栅极由一个独立的电源驱动，该电源也连接到发射极。

文件夹描述: 1)栅极直流时的热超应力老化 与这些数据相关的实验包括用直流波形对器件进行热循环。因此，一个高电压被施加到栅极，直到温度-由红外传感器检测-超过一定的限制，然后关闭栅极电压。在分析收集到的数据时，观察到设备由于锁存而失效。作为这种故障的前兆，在关断期间观察到尾电流(集电极电流)的变化。此文件夹包含单个IGBT老化的数据。附加信息可在文件夹内的自述文件中获得。

2)门处有方形信号的热超应力老化 与这些数据相关的实验包括在栅极处应用方波的热循环。该设置允许在设备切换时收集瞬态数据。这种设置的动机是模仿实际场景，其中设备预期作为开关设备运行，同时受到远远超出其安全操作区域的条件。此文件夹包含单个IGBT老化的数据。

3)基于栅极方信号和SMU数据的热超应力老化 与这些数据相关的实验包括在栅极处应用方波的热循环。该设置允许在设备切换时收集瞬态数据。然而，由于控制开关速度的一些困难，并不是所有的瞬态(集电极电流、栅极电压和集电极-发射极电压的高速测量)在输出波形的上升沿和下降沿都被捕获。因此，数据集可能有一些空的临时数据结构。此外，由于数据采集系统中分压器没有进行校正，低速(滤波后的数据)数据超出了比例。此文件夹包含4个设备的老化数据。此外，它还包含来自SMU(源测量单元)表征的三个电气参数，阈值电压，击穿电压和泄漏电流的数据。

4)新设备的smu数据 该文件夹包含40个元件在原始状态下的电气特性数据。器件为mosfet IRF520Npbf和IRG4BC30K。表征的参数有阈值电压、击穿电压和泄漏电流。

数据与资源

其他信息

域 价值
最近更新 十一月 13, 2023, 02:13 (UTC)
创建的 九月 11, 2023, 07:42 (UTC)