栅极使用平方信号进行热超应力老化
方形信号栅极电压偏置的热过应力老化。
Mat格式文件“april22nd-23rdIgbtIRCG40BC30kd-A17”包含来自热过应力老化实验的数据，使用方形信号来偏置栅极。本实验将封装温度控制在器件额定温度之外的一个范围内，目的是加速器件的老化。监测了集电极电流、集电极电压、栅极电压和封装温度等参数。
该装置的结构包括将发射极连接到电源的地，并将集电极与电阻串联到电源的正引线上。该门由一个高速放大器驱动，该放大器放大函数发生器的输出。
除了低速测量外，该数据集还包含开关器件瞬态特性的高分辨率数据。
该资源暂时没有视图
其他信息
| 域 | 价值 |
|---|---|
| Data last updated | 2023年9月19日 |
| Metadata last updated | 2023年9月19日 |
| 创建的 | 2023年9月19日 |
| 格式 | ZIP |
| 授权 | 没有指定授权 |
| Datastore active | False |
| Has views | False |
| Id | f9d1ef32-1d11-403a-8d27-fcd28529ab8f |
| Mimetype | application/zip |
| Package id | f5f6e3f6-0fa4-477d-bdf3-9b14f5b2a0db |
| Position | 2 |
| Size | 79.2 MiB |
| State | active |
| Url type | upload |