栅极直流时的热超应力老化
直流栅极电压偏置的热应力老化
Matlab文件“20080429T135531”包含使用直流偏置栅极电压的热应力老化实验的数据。本实验将封装温度控制在器件额定温度之外的一个范围内，目的是加速器件的老化。监测了集电极电流、集电极电压、栅极电压和封装温度等参数。 该装置的结构包括将发射极连接到电源的地，并将集电极与电阻串联到电源的正引线上。栅极由一个独立的电源驱动，该电源也连接到发射极。
实验设置 1. 栅极电压(Vg): 10V DC 2. 低温阈值:268oC 3. 高温阈值:270oC 4. 最高温度:305℃(热失控设定) 实验评价 1. 实验持续时间约为6小时。4小时。 2. 实验在闭锁和热失控后停止 3. 逐渐提高包装温度(220℃，240℃，270℃) 4. 设备部件号:IRF-G4BC30KD
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其他信息
| 域 | 价值 |
|---|---|
| Data last updated | 2023年9月19日 |
| Metadata last updated | 2023年9月19日 |
| 创建的 | 2023年9月19日 |
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| 授权 | 没有指定授权 |
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